Sa pag-unlad ng industriya ng baterya ng lithium, ang mga bagong hamon ay patuloy na inilalagay sa teknolohiya ng pagsukat ng elektrod, na nagreresulta sa mga kinakailangan para sa pagpapabuti ng katumpakan ng pagsukat. Kunin ang mga kinakailangan para sa limitasyon sa paggawa ng teknolohiya sa pagsukat ng elektrod bilang isang halimbawa.
1. Ang pagsukat ng area density sa proseso ng electrode coating ay nangangailangan na ang katumpakan ng pagsukat ay umabot sa 0.2g/m² kapag ang integral time ng ray signal ay pinaikli mula 4 na segundo hanggang 0.1 segundo.
- Dahil sa mga pagbabago sa istraktura ng tab ng cell at ang proseso ng cathode at anode overhang, kinakailangan na ang online na tumpak na pagsukat na naglalayong geometric na profile ay nadagdagan sa coating edge thinning area. Ang katumpakan ng repeatability ng pagsukat ng profile sa 0.1mm partition ay tinataas mula ±3σ (≤ ±0.8μm) hanggang ±3σ (≤ ±0.5μm).
- Ang closed-loop na kontrol nang walang pagkaantala ay kinakailangan sa proseso ng patong, at ang netong bigat ng wet film ay kinakailangang masukat sa proseso ng patong;
- Ang katumpakan ng kapal ng elektrod sa proseso ng calendering ay kinakailangan upang mapabuti mula 0.3μm hanggang 0.2μm;
- Para sa mataas na compaction density at extension ng substrate sa proseso ng calendering, kinakailangan na dagdagan ang function ng online na pagsukat ng timbang.
Ang CDM thickness & area density gauge ay lubos na pinuri ng mga customer mula nang ilunsad ito, dahil sa mga makabagong tagumpay nito sa teknolohiya at mahusay na pagganap sa aplikasyon. Kasabay nito, batay sa kakayahang sukatin ang mga detalyadong tampok, ito ay kilala bilang "online microscope" ng mga customer.
CDM Thickness at Areal Density Gauge
Aplikasyon
Ito ay pangunahing ginagamit para sa lithium battery cathode at anode coating process at sukatin ang kapal at area density.
Sukatinment ng detalyadotampoks ng elektrod
Kunin ang gilid ng profile ng electrode online sa real time.
Online na "microscope" phase difference measurement (pagsusukat ng kapal) na pamamaraan.
Mga pangunahing teknolohiya
Teknolohiya sa pagsukat ng pagkakaiba sa bahagi ng CDM:
- Nalutas nito ang problema ng pagsukat ng mga profile tensile deformation sa transverse at longitudinal thinning area, at ang mataas na misjudgment rate ng thinning area sa pamamagitan ng automatic classification algorithm.
- Napagtanto nito ang mataas na katumpakan na pagsukat ng tunay na geometric na hugis ng gilid ng profile.
Habang nagde-detect ng area density ng electrode, makikita rin ng gauge ang maliliit na feature nito: tulad ng nawawalang coating, kakulangan ng materyal, mga gasgas, kapal ng profile ng thinning area, AT9 kapal, atbp. Maaari itong makamit ang 0.01mm microscopic detection.
Mula nang ipakilala ito, ang kapal ng CDM at sukat ng densidad ng lugar ay na-order ng ilang nangungunang mga negosyo sa pagmamanupaktura ng lithium, at naging karaniwang pagsasaayos ng mga bagong linya ng produksyon ng customer.
Oras ng post: Set-27-2023
